環(huán)境試驗(yàn)濕熱試驗(yàn)設(shè)備檢測

環(huán)境試驗(yàn)濕熱試驗(yàn)設(shè)備檢測項(xiàng)目報價？??解決方案？??檢測周期？??樣品要求？

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GB/T 778.2-2018飲用冷水水表和熱水水表 第2部分:試驗(yàn)方法

GB/T 778的本部分規(guī)定了完整水表和作為獨(dú)立單元的水表測量傳感器(包括流量或體積檢測元件)以及計(jì)算器(包括指示裝置)的試驗(yàn)要求。本部分適用于GB/T 778.1定義的飲用冷水水表和熱水水表的型式評價試驗(yàn)和首次檢定試驗(yàn)。本部分給出了水表型式評價試驗(yàn)和首次檢定試驗(yàn)的詳細(xì)試驗(yàn)程序、試驗(yàn)原則、試驗(yàn)設(shè)備和試驗(yàn)方法。如果法規(guī)有要求，本部分也適用于輔助裝置。

GB/T 1444-2008防爆燈具專用螺口式燈座

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了防爆燈具專用螺口式燈座的型式、基本參數(shù)和尺寸、結(jié)構(gòu)和材料和試驗(yàn)的要求和檢驗(yàn)程序。本標(biāo)準(zhǔn)適用于爆炸性環(huán)境中增安型和無火花型防爆燈具專用的防爆燈具專用螺口式燈座（以下簡稱燈座）。

GB/T 2423.3-2016環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)

GB/T 2423的本部分規(guī)定了確定元件或設(shè)備在高濕度的條件下使用、貯存和運(yùn)輸時適應(yīng)性的試驗(yàn)方法。本部分的目的是用于確定規(guī)定時間內(nèi)恒定溫度、無凝露的高濕環(huán)境對試驗(yàn)樣品的影響。本部分適用于小型設(shè)備或元件，也適用于大型設(shè)備，同時適用于散熱和非散熱試驗(yàn)樣品。

GB/T 2423.19-2013環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kc:接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)

本試驗(yàn):--為評價二氧化硫污染大氣對接觸點(diǎn)和連接件的腐蝕作用提供了一種加速試驗(yàn)方法;--尤其適用于作對比試驗(yàn);--不能作為常規(guī)腐蝕試驗(yàn)。即,它可能無法預(yù)測接觸點(diǎn)和連接件在工業(yè)大氣中的腐蝕行為。本試驗(yàn)的目的是:a)確定含二氧化硫的氣體對貴金屬或貴金屬鍍層的接觸點(diǎn)和連接件的接觸性能的影響,不包括銀和某些銀合金組成的元件。b)檢驗(yàn)無焊料連接件的牢固性及有效性。在所有試驗(yàn)中,連接件暴露于二氧化硫試驗(yàn)氣體中而引起其接觸電阻的變化可作為主要的性能判據(jù)。

GB/T 2423.20-2014環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kd:接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)

本試驗(yàn):--為評價用于接觸點(diǎn)和連接件的銀和銀合金變色提供了一種加速試驗(yàn)方法;--尤其適用于作對比試驗(yàn);--不宜作為通用腐蝕試驗(yàn),即它可能無法預(yù)測接觸點(diǎn)和連接件在工業(yè)大氣中的腐蝕行為。本試驗(yàn)的目的是:a) 確定含硫化氫的大氣對下面材料制成的接觸點(diǎn)和連接件的接觸特性的影響:--銀或銀合金;--有其他保護(hù)層的銀;--用銀或銀合金覆蓋的金屬。b) 檢查用上述材料做成的無焊料連接件的緊密性和有效性。在所有試驗(yàn)中,主要根據(jù)試驗(yàn)樣品在含有硫化氫大氣中暴露所引起的接觸電阻的變化值進(jìn)行性能評價。

GB/T 2423.21-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)M:低氣壓

本部分適用于室溫條件下的低氣壓試驗(yàn)。本試驗(yàn)的目的是用于確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低氣壓條件下貯存、運(yùn)輸或使用的適應(yīng)性。

GB/T 2423.22-2012環(huán)境試驗(yàn).第2部分：試驗(yàn)方法.試驗(yàn)N：溫度變化

GB/T 2423的本部分規(guī)定的試驗(yàn)用來確定元器件、設(shè)備或其他產(chǎn)品耐受環(huán)境溫度快速變化的能力。實(shí)現(xiàn)這一目的所需的各溫度下的暴露持續(xù)時間取決于試驗(yàn)樣品的特性。

GB/T 2423.23-2013環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Q:密封

GB/T 2423的本部分規(guī)定了各種密封性能試驗(yàn)方法。試驗(yàn)Qa、Qc是粗檢,觀察從漏隙中冒出的氣泡;試驗(yàn)Qd是在加溫條件下觀察液體的滲漏;試驗(yàn)Qy是在降壓的條件下使氣體通過漏隙進(jìn)入試驗(yàn)箱,然后測量試驗(yàn)箱的性能變化;試驗(yàn)Qk、Qm是用示蹤氣體檢測細(xì)漏;試驗(yàn)Qf、Ql是在加壓條件下使液體通過漏隙進(jìn)入其中,然后測量其性能變化。本部分適用于檢測各種電工電子產(chǎn)品的密封性能,也適用于其他密封零部件的密封性檢測。

GB/T 2423.28-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分;試驗(yàn)方法 試驗(yàn)T:錫焊

GB/T 2423的本部分適用于可能受到下述試驗(yàn)情況的所有電氣和電子元器件。

GB/T 2423.30-2013環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)XA和導(dǎo)則:在清洗劑中浸漬

GB/T 2423的本部分適用于在規(guī)定的溫度下、規(guī)定的時間內(nèi),將試驗(yàn)樣品浸漬在清洗溶劑中的試驗(yàn)。如果有關(guān)規(guī)范有要求,在浸漬和干燥以后試驗(yàn)樣品應(yīng)該用脫脂棉或薄卷紙擦拭。本試驗(yàn)的導(dǎo)則見附錄A。

GB/T 2423.34-2012環(huán)境試驗(yàn).第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)

GB/T 2423的本部分提供了一種組合試驗(yàn)方法，主要用于元器件類試驗(yàn)樣品，以加速方式來確定試驗(yàn)樣品在高溫/高濕和低溫條件惡劣作用下的耐受性能。

GB/T 2423.35-2019環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)和導(dǎo)則 氣候(溫度、濕度)和動力學(xué)(振動、沖擊)綜合試驗(yàn)

GB/T 2423的本部分提供了對設(shè)備或組件進(jìn)行氣候和動力學(xué)綜合試驗(yàn)的方法和導(dǎo)則。綜合試驗(yàn)的用途是調(diào)查設(shè)備或組件受到氣候和動力學(xué)綜合試驗(yàn)影響的程度。本綜合試驗(yàn)方法適用于檢查電的、機(jī)械的或其他物理的變化。

GB/T 2423.37-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)L:沙塵試驗(yàn)

本部分規(guī)定了確定空氣中懸浮的沙塵對產(chǎn)品的影響的試驗(yàn)方法。 本試驗(yàn)方法不適用于檢測空氣過濾器。只有試驗(yàn)方法Lc2適用于模擬高速粒子（大于100m/s）的腐蝕效應(yīng)。

GB/T 2423.40-2013環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱

GB/T 2423的本部分規(guī)定了一種以加速方式評定小型電工電子產(chǎn)品(主要是非氣密元件)耐濕熱劣化效應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法。本試驗(yàn)不適用于評定如腐蝕和變形等外部效應(yīng)。

GB/T 2423.41-2013環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 風(fēng)壓

GB/T 2423的本部分規(guī)定了電工電子產(chǎn)品利用風(fēng)洞進(jìn)行風(fēng)壓試驗(yàn)的術(shù)語、對試驗(yàn)設(shè)備和試驗(yàn)樣品(以下簡稱試驗(yàn)件)的要求、試驗(yàn)條件和試驗(yàn)方法。本部分適用于檢驗(yàn)安裝在戶外的電工電子設(shè)備或部件(如雷達(dá)天線、微波天線、衛(wèi)星天線等)承受風(fēng)壓時的適應(yīng)性及評定其結(jié)構(gòu)的合理性。本部分不適用于固定電工電子設(shè)備或部件的塔架。

GB/T 2423.45-2012環(huán)境試驗(yàn).第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABDM：氣候順序

GB/T 2423的本部分給出了確定試驗(yàn)樣品在承受依次由溫度、濕熱和低氣壓(必要時)等環(huán)境應(yīng)力組成的環(huán)境條件時的環(huán)境適應(yīng)性的一種標(biāo)準(zhǔn)的組合試驗(yàn)方法。 施加應(yīng)力的次序與試驗(yàn)步驟轉(zhuǎn)換時的環(huán)境條件已經(jīng)選定,以便加速并強(qiáng)化與自然氣候條件相同的劣化機(jī)理。 當(dāng)劣化機(jī)理相同且滿足規(guī)定的試驗(yàn)要求時,本部分也可作為編寫類似試驗(yàn)方法的基礎(chǔ)。 在本試驗(yàn)中,試驗(yàn)樣品按標(biāo)準(zhǔn)順序接受環(huán)境試驗(yàn),并按GB/T 2421.1—2008附錄A 規(guī)定的代號分類,只是第3組數(shù)字用于表示第5步:交變濕熱試驗(yàn)Db的周期數(shù)(見GB/T 2423.4—2008第5章)。在本部分中,-/-/56、40/-/-等氣候類型中的短劃線可用55/100/56、25/085/56、40/085/21等組合中適合于該位置的任何標(biāo)準(zhǔn)值代替,如需要改變,有關(guān)規(guī)范應(yīng)為所選試驗(yàn)方法的每個步驟提供所需的資料(見第8章)。 本試驗(yàn)常被安排在與機(jī)械應(yīng)力有關(guān)的其他試驗(yàn)如端子強(qiáng)度試驗(yàn)、可焊性試驗(yàn)和振動試驗(yàn)之后進(jìn)行,以作為確定試驗(yàn)樣品的密封性是否損壞的方法。

GB/T 2423.50-2012環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy: 恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗(yàn)

GB/T 2423的本部分規(guī)定了一種以加速方式評價小型電工電子產(chǎn)品(主要是非氣密元件)耐濕熱劣化效應(yīng)的試驗(yàn)方法。本試驗(yàn)不適用于評價諸如腐蝕和變形等外部效應(yīng)。

GB/T 2423.59-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn).Z/ABMFh:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(隨機(jī))綜合

GB/T 2423的本部分規(guī)定了溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機(jī)）綜合試驗(yàn)的基本要求、嚴(yán)酷等級、試驗(yàn)程序以及其他技術(shù)細(xì)則。本部分適用于確定產(chǎn)品在溫度（低溫、高溫）、低氣壓和振動（隨機(jī)）綜合作用下的適應(yīng)性。有溫度變化的綜合試驗(yàn)可參考本部分。

GB/T 2423.60-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)U:引出端及整體安裝件強(qiáng)度

GB/T 2423的本部分適用于在正常裝配或修理過程中其引出端或整體安裝件可能受到應(yīng)力的所有電工電子元器件。

GB/T 2423.63-2019環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn):溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(混合模式)綜合

GB/T 2423的本部分規(guī)定了溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(混合模式)綜合試驗(yàn)的基本要求、嚴(yán)酷等級、試驗(yàn)程序以及其他技術(shù)細(xì)則。本部分適用于確定產(chǎn)品在溫度(低溫、高溫)、低氣壓和振動(混合模式)綜合作用下的貯存、運(yùn)輸和使用的適應(yīng)性。有溫度變化的綜合試驗(yàn)可參考本部分。