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CR質(zhì)量控制檢測(cè)檢測(cè)

發(fā)布日期: 2024-06-21 17:34:53 - 更新時(shí)間:2024年06月29日 15:22

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點(diǎn) 擊 解 答??

CR 13935-2000無損檢驗(yàn).總的NDE數(shù)據(jù)格式模型

So far, existing formats for non-destructive examination (NDE) data are specific to a given system and method, and do not include all the necessary information to allow an exchange of the data.

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