寬帶傳輸系統(tǒng);2.4GHz無線數(shù)據(jù)傳輸設(shè)備檢測(cè)

寬帶傳輸系統(tǒng);2.4GHz無線數(shù)據(jù)傳輸設(shè)備檢測(cè)項(xiàng)目報(bào)價(jià)？??解決方案？??檢測(cè)周期？??樣品要求？

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GB/T 223.81-2007鋼鐵及合金 總鋁和總硼含量的測(cè)定 微波消解-電感耦合等離子體質(zhì)譜法

GB／T 223的本部分規(guī)定了用微波消解-電感耦合等離子體質(zhì)譜法測(cè)定鋼鐵及合金中的總鋁和總硼含量 本方法適用于鋼鐵及合金中總鋁和總硼含量的測(cè)定，總鋁測(cè)定質(zhì)量分?jǐn)?shù)范圍：0．000 5％～0．10％；總硼測(cè)定質(zhì)量分?jǐn)?shù)范圍：0．000 2％～0．10％

GB/T 700-2006碳素結(jié)構(gòu)鋼

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了碳素結(jié)構(gòu)鋼的牌號(hào)、尺寸、外形、重量及允許偏差、技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則、包裝、標(biāo)志和質(zhì)量證明書。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于一般以交貨狀態(tài)使用，通常用于焊接、鉚接、栓接工程結(jié)構(gòu)用熱軋鋼板、鋼帶、型鋼和鋼棒。 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了化學(xué)成分也適用于鋼錠、連鑄坯、鋼坯及其制品。

GB/T 777-2008工業(yè)自動(dòng)化儀表用模擬氣動(dòng)信號(hào)

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了工業(yè)過程測(cè)量和控制系統(tǒng)中，用于系統(tǒng)元件間傳輸信息的模擬氣動(dòng)信號(hào)。本標(biāo)準(zhǔn)適用于：氣動(dòng)控制器；氣動(dòng)變送器和氣動(dòng)信息傳輸系統(tǒng)。本標(biāo)準(zhǔn)不適用于僅供系統(tǒng)元件內(nèi)部使用的模擬氣動(dòng)信號(hào)。本標(biāo)準(zhǔn)旨在確立：氣動(dòng)信息傳輸?shù)臉?biāo)準(zhǔn)工作壓力范圍；氣動(dòng)控制器及變送器，氣動(dòng)信息傳輸系統(tǒng)，電流-壓力轉(zhuǎn)換器和類似裝置工作時(shí)的標(biāo)準(zhǔn)氣源壓力（規(guī)定了限制）。

GB/T 778.2-2018飲用冷水水表和熱水水表 第2部分:試驗(yàn)方法

GB/T 778的本部分規(guī)定了完整水表和作為獨(dú)立單元的水表測(cè)量傳感器(包括流量或體積檢測(cè)元件)以及計(jì)算器(包括指示裝置)的試驗(yàn)要求。本部分適用于GB/T 778.1定義的飲用冷水水表和熱水水表的型式評(píng)價(jià)試驗(yàn)和首次檢定試驗(yàn)。本部分給出了水表型式評(píng)價(jià)試驗(yàn)和首次檢定試驗(yàn)的詳細(xì)試驗(yàn)程序、試驗(yàn)原則、試驗(yàn)設(shè)備和試驗(yàn)方法。如果法規(guī)有要求，本部分也適用于輔助裝置。

GB/T 1417-1978常用電信設(shè)備名詞術(shù)語

本標(biāo)準(zhǔn)所列名詞術(shù)語適用于電信各的生產(chǎn)、設(shè)計(jì)、施工、維護(hù)、管理、科研、教學(xué)、出版及援外等方面。

GB/T 1418-1995電信設(shè)備通用文字符號(hào)

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電信設(shè)備常用基本文字符號(hào)、常用輔助文字符號(hào)。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于電信系統(tǒng)圖、電信平面圖和框圖及其它圖樣的繪制，標(biāo)明系統(tǒng)、設(shè)備、部件、元件及線路的名稱、性能作用和位置。 本標(biāo)準(zhǔn)不適用于通信產(chǎn)品的型號(hào)命名。

GB/T 1988-1998信息技術(shù) 信息交換用七位編碼字符集

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了由128個(gè)字符（控制字符和圖形字符，如：字母、數(shù)字及符號(hào)）組成的字符集以及它們的編碼表示。 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了一個(gè)中國通用的代碼表版本，也提供一個(gè)參考代碼表版本。 本字符集主要用于數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)與有關(guān)設(shè)備之間及數(shù)據(jù)通信系統(tǒng)內(nèi)的信息交換，在確定本字符集時(shí)，還考慮了數(shù)據(jù)處理中所需的圖形字符和控制功能。 當(dāng)本字符集不能滿足某些特殊應(yīng)用場(chǎng)合需要時(shí)，它允許使用代碼擴(kuò)充控制字符，這些控制字符的使用方法在GB/T 2311中規(guī)定。 本標(biāo)準(zhǔn)中提到的控制字符的定義，在GB/T 5261中規(guī)定，假定與它們有關(guān)的數(shù)據(jù)是按正向順序處理的，當(dāng)它們包含在不按正向順序處理的數(shù)據(jù)串中，或包含在供固定記錄處理的格式化數(shù)據(jù)中時(shí)，可能會(huì)產(chǎn)生不希望有的影響，或者可能需要附加特定的處理，以保證它們產(chǎn)生預(yù)期的功能。

GB/T 2036-1994印制電路術(shù)語

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了印制電路技術(shù)的常用術(shù)語及其定義。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于印制電路用基材、印制電路設(shè)計(jì)與制造、檢測(cè)與印制板裝聯(lián)及有關(guān)領(lǐng)域。

GB/T 2099.9-2017家用和類似用途插頭插座 第2-9部分:信息插座的特殊要求

GB/T 2099的本部分規(guī)定了家用和類似用途的信息插座的標(biāo)志、防觸電保護(hù)、結(jié)構(gòu)、電氣性能、機(jī)械性能等技術(shù)要求。本部分適用于戶內(nèi)或戶外使用的、家用和類似用途的、用于連接互聯(lián)網(wǎng)和傳輸信息的固定式插座或移動(dòng)式插座。信息插座適合在下述環(huán)境溫度中使用：通常不超過+40 ℃，但在24 h期間內(nèi)平均不超過+35 ℃，環(huán)境空氣溫度的下限值為-5 ℃。

GB/T 2298-2010機(jī)械振動(dòng)、沖擊與狀態(tài)監(jiān)測(cè) 詞匯

本標(biāo)準(zhǔn)定義了機(jī)械振動(dòng)、沖擊與狀態(tài)監(jiān)測(cè)領(lǐng)域特有的術(shù)語和表達(dá)式。

GB/T 2422-2012環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)方法編寫導(dǎo)則 術(shù)語和定義

本標(biāo)準(zhǔn)給出了電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)中使用的術(shù)語及其定義，如:元件、分組件、組件和裝置。環(huán)境條件包括:沖擊，振動(dòng)，氣候(溫度、濕度和氣壓)，密封(防止固體、液體、氣體浸入或維持壓差)，焊接熱(包括焊接產(chǎn)生的熱沖擊)。本標(biāo)準(zhǔn)沒有涉及著火危險(xiǎn)試驗(yàn)的有關(guān)術(shù)語，其相關(guān)術(shù)語在GB/T 5169標(biāo)準(zhǔn)中列出。沒有考慮如下條件:太陽輻射，長(zhǎng)霉，腐蝕，引出端強(qiáng)度，標(biāo)記的耐久性，塵，沙和降水，核輻射，聲振。

GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)A: 低溫

GB/T 2423 的本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。試驗(yàn) Ab 和試驗(yàn) Ad 與早期版本無實(shí)質(zhì)性的差異。增加試驗(yàn) Ae 的目的主要是檢測(cè)那些要求在整個(gè)試驗(yàn)過程包括降溫調(diào)節(jié)期間都要通電運(yùn)行的設(shè)備。本低溫試驗(yàn)的目的僅限于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。 本低溫試驗(yàn)不能用來評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力 , 在這種情況下 ,應(yīng)采用 GB/T 2423.22 。本低溫試驗(yàn)方法細(xì)分為以下幾種 :——非散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn) :·試驗(yàn) Ab, 溫度漸變。——散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn) :·試驗(yàn) Ad, 溫度漸變 ;·試驗(yàn) Ae, 溫度漸變 , 試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程通電。本部分給出的試驗(yàn)方法通常用于試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。

GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)B:高溫

GB/T 2423 的本部分規(guī)定的高溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。試驗(yàn) Bb 和試驗(yàn) Bd 與早期版本無實(shí)質(zhì)性的差異。本低溫試驗(yàn)的目的僅限于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。 本高溫試驗(yàn)不能用來評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力 , 在這種情況下 , 應(yīng)采用 GB/T 2423.22 。本高溫試驗(yàn)方法細(xì)分為以下幾種 :——非散熱試驗(yàn)樣品高溫試驗(yàn) :·試驗(yàn) Bb, 溫度漸變?！嵩囼?yàn)樣品高溫試驗(yàn) :·試驗(yàn) Bd, 溫度漸變 ;·試驗(yàn) Be, 溫度漸變 , 試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程通電。本部分給出的試驗(yàn)方法通常用于試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。

GB/T 2423.3-2016環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)

GB/T 2423的本部分規(guī)定了確定元件或設(shè)備在高濕度的條件下使用、貯存和運(yùn)輸時(shí)適應(yīng)性的試驗(yàn)方法。本部分的目的是用于確定規(guī)定時(shí)間內(nèi)恒定溫度、無凝露的高濕環(huán)境對(duì)試驗(yàn)樣品的影響。本部分適用于小型設(shè)備或元件，也適用于大型設(shè)備，同時(shí)適用于散熱和非散熱試驗(yàn)樣品。

GB/T 2423.10-2019環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc:振動(dòng)(正弦)

GB/T 2423的本部分給出了一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的試驗(yàn)方法過程，用以確定元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品(下文稱樣品)經(jīng)受規(guī)定嚴(yán)酷度正弦振動(dòng)的能力。如果試驗(yàn)要求采用非包裝形式，表明受試樣品是不帶包裝的。然而，如果試驗(yàn)要求樣品帶包裝，就用帶包裝的產(chǎn)品，并將產(chǎn)品及其包裝視為一個(gè)受試樣品。本試驗(yàn)的目的是確定樣品的機(jī)械薄弱環(huán)節(jié)和/或特性降低情況。用這些資料，結(jié)合有關(guān)規(guī)范用以判定樣品是否可以接收。在某些情況下，本試驗(yàn)方法可用于論證樣品的機(jī)械結(jié)構(gòu)完好性和/或研究它們的動(dòng)態(tài)特性。也可根據(jù)經(jīng)受本試驗(yàn)不同嚴(yán)酷等級(jí)的能力來劃分元器件等級(jí)。

GB/T 2423.19-2013環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kc:接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)

本試驗(yàn):--為評(píng)價(jià)二氧化硫污染大氣對(duì)接觸點(diǎn)和連接件的腐蝕作用提供了一種加速試驗(yàn)方法;--尤其適用于作對(duì)比試驗(yàn);--不能作為常規(guī)腐蝕試驗(yàn)。即,它可能無法預(yù)測(cè)接觸點(diǎn)和連接件在工業(yè)大氣中的腐蝕行為。本試驗(yàn)的目的是:a)確定含二氧化硫的氣體對(duì)貴金屬或貴金屬鍍層的接觸點(diǎn)和連接件的接觸性能的影響,不包括銀和某些銀合金組成的元件。b)檢驗(yàn)無焊料連接件的牢固性及有效性。在所有試驗(yàn)中,連接件暴露于二氧化硫試驗(yàn)氣體中而引起其接觸電阻的變化可作為主要的性能判據(jù)。

GB/T 2423.20-2014環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kd:接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)

本試驗(yàn):--為評(píng)價(jià)用于接觸點(diǎn)和連接件的銀和銀合金變色提供了一種加速試驗(yàn)方法;--尤其適用于作對(duì)比試驗(yàn);--不宜作為通用腐蝕試驗(yàn),即它可能無法預(yù)測(cè)接觸點(diǎn)和連接件在工業(yè)大氣中的腐蝕行為。本試驗(yàn)的目的是:a) 確定含硫化氫的大氣對(duì)下面材料制成的接觸點(diǎn)和連接件的接觸特性的影響:--銀或銀合金;--有其他保護(hù)層的銀;--用銀或銀合金覆蓋的金屬。b) 檢查用上述材料做成的無焊料連接件的緊密性和有效性。在所有試驗(yàn)中,主要根據(jù)試驗(yàn)樣品在含有硫化氫大氣中暴露所引起的接觸電阻的變化值進(jìn)行性能評(píng)價(jià)。

GB/T 2423.21-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)M:低氣壓

本部分適用于室溫條件下的低氣壓試驗(yàn)。本試驗(yàn)的目的是用于確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低氣壓條件下貯存、運(yùn)輸或使用的適應(yīng)性。

GB/T 2423.22-2012環(huán)境試驗(yàn).第2部分：試驗(yàn)方法.試驗(yàn)N：溫度變化

GB/T 2423的本部分規(guī)定的試驗(yàn)用來確定元器件、設(shè)備或其他產(chǎn)品耐受環(huán)境溫度快速變化的能力。實(shí)現(xiàn)這一目的所需的各溫度下的暴露持續(xù)時(shí)間取決于試驗(yàn)樣品的特性。

GB/T 2423.23-2013環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Q:密封

GB/T 2423的本部分規(guī)定了各種密封性能試驗(yàn)方法。試驗(yàn)Qa、Qc是粗檢,觀察從漏隙中冒出的氣泡;試驗(yàn)Qd是在加溫條件下觀察液體的滲漏;試驗(yàn)Qy是在降壓的條件下使氣體通過漏隙進(jìn)入試驗(yàn)箱,然后測(cè)量試驗(yàn)箱的性能變化;試驗(yàn)Qk、Qm是用示蹤氣體檢測(cè)細(xì)漏;試驗(yàn)Qf、Ql是在加壓條件下使液體通過漏隙進(jìn)入其中,然后測(cè)量其性能變化。本部分適用于檢測(cè)各種電工電子產(chǎn)品的密封性能,也適用于其他密封零部件的密封性檢測(cè)。