沙塵試驗(yàn)設(shè)備檢測

沙塵試驗(yàn)設(shè)備檢測項(xiàng)目報(bào)價(jià)？??解決方案？??檢測周期？??樣品要求？

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GB/T 2423.3-2016環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)

GB/T 2423的本部分規(guī)定了確定元件或設(shè)備在高濕度的條件下使用、貯存和運(yùn)輸時(shí)適應(yīng)性的試驗(yàn)方法。本部分的目的是用于確定規(guī)定時(shí)間內(nèi)恒定溫度、無凝露的高濕環(huán)境對試驗(yàn)樣品的影響。本部分適用于小型設(shè)備或元件，也適用于大型設(shè)備，同時(shí)適用于散熱和非散熱試驗(yàn)樣品。

GB/T 2423.19-2013環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kc:接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)

本試驗(yàn):--為評價(jià)二氧化硫污染大氣對接觸點(diǎn)和連接件的腐蝕作用提供了一種加速試驗(yàn)方法;--尤其適用于作對比試驗(yàn);--不能作為常規(guī)腐蝕試驗(yàn)。即,它可能無法預(yù)測接觸點(diǎn)和連接件在工業(yè)大氣中的腐蝕行為。本試驗(yàn)的目的是:a)確定含二氧化硫的氣體對貴金屬或貴金屬鍍層的接觸點(diǎn)和連接件的接觸性能的影響,不包括銀和某些銀合金組成的元件。b)檢驗(yàn)無焊料連接件的牢固性及有效性。在所有試驗(yàn)中,連接件暴露于二氧化硫試驗(yàn)氣體中而引起其接觸電阻的變化可作為主要的性能判據(jù)。

GB/T 2423.20-2014環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kd:接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)

本試驗(yàn):--為評價(jià)用于接觸點(diǎn)和連接件的銀和銀合金變色提供了一種加速試驗(yàn)方法;--尤其適用于作對比試驗(yàn);--不宜作為通用腐蝕試驗(yàn),即它可能無法預(yù)測接觸點(diǎn)和連接件在工業(yè)大氣中的腐蝕行為。本試驗(yàn)的目的是:a) 確定含硫化氫的大氣對下面材料制成的接觸點(diǎn)和連接件的接觸特性的影響:--銀或銀合金;--有其他保護(hù)層的銀;--用銀或銀合金覆蓋的金屬。b) 檢查用上述材料做成的無焊料連接件的緊密性和有效性。在所有試驗(yàn)中,主要根據(jù)試驗(yàn)樣品在含有硫化氫大氣中暴露所引起的接觸電阻的變化值進(jìn)行性能評價(jià)。

GB/T 2423.21-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)M:低氣壓

本部分適用于室溫條件下的低氣壓試驗(yàn)。本試驗(yàn)的目的是用于確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低氣壓條件下貯存、運(yùn)輸或使用的適應(yīng)性。

GB/T 2423.22-2012環(huán)境試驗(yàn).第2部分：試驗(yàn)方法.試驗(yàn)N：溫度變化

GB/T 2423的本部分規(guī)定的試驗(yàn)用來確定元器件、設(shè)備或其他產(chǎn)品耐受環(huán)境溫度快速變化的能力。實(shí)現(xiàn)這一目的所需的各溫度下的暴露持續(xù)時(shí)間取決于試驗(yàn)樣品的特性。

GB/T 2423.23-2013環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Q:密封

GB/T 2423的本部分規(guī)定了各種密封性能試驗(yàn)方法。試驗(yàn)Qa、Qc是粗檢,觀察從漏隙中冒出的氣泡;試驗(yàn)Qd是在加溫條件下觀察液體的滲漏;試驗(yàn)Qy是在降壓的條件下使氣體通過漏隙進(jìn)入試驗(yàn)箱,然后測量試驗(yàn)箱的性能變化;試驗(yàn)Qk、Qm是用示蹤氣體檢測細(xì)漏;試驗(yàn)Qf、Ql是在加壓條件下使液體通過漏隙進(jìn)入其中,然后測量其性能變化。本部分適用于檢測各種電工電子產(chǎn)品的密封性能,也適用于其他密封零部件的密封性檢測。

GB/T 2423.30-2013環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)XA和導(dǎo)則:在清洗劑中浸漬

GB/T 2423的本部分適用于在規(guī)定的溫度下、規(guī)定的時(shí)間內(nèi),將試驗(yàn)樣品浸漬在清洗溶劑中的試驗(yàn)。如果有關(guān)規(guī)范有要求,在浸漬和干燥以后試驗(yàn)樣品應(yīng)該用脫脂棉或薄卷紙擦拭。本試驗(yàn)的導(dǎo)則見附錄A。

GB/T 2423.34-2012環(huán)境試驗(yàn).第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)

GB/T 2423的本部分提供了一種組合試驗(yàn)方法，主要用于元器件類試驗(yàn)樣品，以加速方式來確定試驗(yàn)樣品在高溫/高濕和低溫條件惡劣作用下的耐受性能。

GB/T 2423.37-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)L:沙塵試驗(yàn)

本部分規(guī)定了確定空氣中懸浮的沙塵對產(chǎn)品的影響的試驗(yàn)方法。 本試驗(yàn)方法不適用于檢測空氣過濾器。只有試驗(yàn)方法Lc2適用于模擬高速粒子（大于100m/s）的腐蝕效應(yīng)。

GB/T 2423.40-2013環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱

GB/T 2423的本部分規(guī)定了一種以加速方式評定小型電工電子產(chǎn)品(主要是非氣密元件)耐濕熱劣化效應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法。本試驗(yàn)不適用于評定如腐蝕和變形等外部效應(yīng)。

GB/T 2423.41-2013環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 風(fēng)壓

GB/T 2423的本部分規(guī)定了電工電子產(chǎn)品利用風(fēng)洞進(jìn)行風(fēng)壓試驗(yàn)的術(shù)語、對試驗(yàn)設(shè)備和試驗(yàn)樣品(以下簡稱試驗(yàn)件)的要求、試驗(yàn)條件和試驗(yàn)方法。本部分適用于檢驗(yàn)安裝在戶外的電工電子設(shè)備或部件(如雷達(dá)天線、微波天線、衛(wèi)星天線等)承受風(fēng)壓時(shí)的適應(yīng)性及評定其結(jié)構(gòu)的合理性。本部分不適用于固定電工電子設(shè)備或部件的塔架。

GB/T 2423.45-2012環(huán)境試驗(yàn).第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABDM：氣候順序

GB/T 2423的本部分給出了確定試驗(yàn)樣品在承受依次由溫度、濕熱和低氣壓(必要時(shí))等環(huán)境應(yīng)力組成的環(huán)境條件時(shí)的環(huán)境適應(yīng)性的一種標(biāo)準(zhǔn)的組合試驗(yàn)方法。 施加應(yīng)力的次序與試驗(yàn)步驟轉(zhuǎn)換時(shí)的環(huán)境條件已經(jīng)選定,以便加速并強(qiáng)化與自然氣候條件相同的劣化機(jī)理。 當(dāng)劣化機(jī)理相同且滿足規(guī)定的試驗(yàn)要求時(shí),本部分也可作為編寫類似試驗(yàn)方法的基礎(chǔ)。 在本試驗(yàn)中,試驗(yàn)樣品按標(biāo)準(zhǔn)順序接受環(huán)境試驗(yàn),并按GB/T 2421.1—2008附錄A 規(guī)定的代號分類,只是第3組數(shù)字用于表示第5步:交變濕熱試驗(yàn)Db的周期數(shù)(見GB/T 2423.4—2008第5章)。在本部分中,-/-/56、40/-/-等氣候類型中的短劃線可用55/100/56、25/085/56、40/085/21等組合中適合于該位置的任何標(biāo)準(zhǔn)值代替,如需要改變,有關(guān)規(guī)范應(yīng)為所選試驗(yàn)方法的每個(gè)步驟提供所需的資料(見第8章)。 本試驗(yàn)常被安排在與機(jī)械應(yīng)力有關(guān)的其他試驗(yàn)如端子強(qiáng)度試驗(yàn)、可焊性試驗(yàn)和振動試驗(yàn)之后進(jìn)行,以作為確定試驗(yàn)樣品的密封性是否損壞的方法。

GB/T 2423.50-2012環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy: 恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗(yàn)

GB/T 2423的本部分規(guī)定了一種以加速方式評價(jià)小型電工電子產(chǎn)品(主要是非氣密元件)耐濕熱劣化效應(yīng)的試驗(yàn)方法。本試驗(yàn)不適用于評價(jià)諸如腐蝕和變形等外部效應(yīng)。

GB/T 2423.59-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn).Z/ABMFh:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(隨機(jī))綜合

GB/T 2423的本部分規(guī)定了溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機(jī)）綜合試驗(yàn)的基本要求、嚴(yán)酷等級、試驗(yàn)程序以及其他技術(shù)細(xì)則。本部分適用于確定產(chǎn)品在溫度（低溫、高溫）、低氣壓和振動（隨機(jī)）綜合作用下的適應(yīng)性。有溫度變化的綜合試驗(yàn)可參考本部分。

GB/T 2423.60-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)U:引出端及整體安裝件強(qiáng)度

GB/T 2423的本部分適用于在正常裝配或修理過程中其引出端或整體安裝件可能受到應(yīng)力的所有電工電子元器件。

GB/T 2423.61-2018環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)和導(dǎo)則:大型試件砂塵試驗(yàn)

GB/T 2423的本部分規(guī)定了一種大型試件整體吹砂塵的試驗(yàn)方法。本部分適用于GB/T 2423.37中方法難以完成的大型試驗(yàn)件的砂塵試驗(yàn)。包括但不限于如下產(chǎn)品：風(fēng)力發(fā)電設(shè)備、沙漠地區(qū)太陽能發(fā)電設(shè)備、交通工具和戶外設(shè)備等。本部分不適用于大型試件非磨蝕性細(xì)塵試驗(yàn)和自由降塵試驗(yàn)，大型試件非磨蝕性細(xì)塵試驗(yàn)和自由降塵試驗(yàn)方法需參考GB/T 2423.37—2006。本試驗(yàn)方法不適用于檢測空氣過濾器。

GB/T 4208-2017外殼防護(hù)等級(IP代碼)

本標(biāo)準(zhǔn)適用于額定電壓不超過72.5 kV，借助外殼防護(hù)的電氣設(shè)備的防護(hù)分級。本標(biāo)準(zhǔn)的目的如下：a)　規(guī)定電氣設(shè)備下述內(nèi)容的外殼防護(hù)等級：1)　對人體觸及外殼內(nèi)的危險(xiǎn)部件的防護(hù)；2)　對固體異物進(jìn)入外殼內(nèi)設(shè)備的防護(hù)；3)　對水進(jìn)入外殼內(nèi)對設(shè)備造成有害影響的防護(hù)。b)　防護(hù)等級的標(biāo)識。c)　各防護(hù)等級標(biāo)識的要求。d)　按本標(biāo)準(zhǔn)的要求對外殼作驗(yàn)證試驗(yàn)。各類產(chǎn)品引用外殼防護(hù)等級的程度和方式，以及采用何種外殼，留待產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)決定，對具體的防護(hù)等級所采用的試驗(yàn)應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，必要時(shí)，在有關(guān)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中可增加補(bǔ)充要求?？稍谟嘘P(guān)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中作具體規(guī)定的細(xì)則參見附錄B。對特殊型式的設(shè)備，產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)可以規(guī)定不同的要求，但至少要保證相同的安全水平。本標(biāo)準(zhǔn)僅考慮在各方面都符合有關(guān)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的外殼，在正常使用條件下，外殼的材料和工藝應(yīng)保證達(dá)到所需要的防護(hù)等級。如果某類設(shè)備滿足試驗(yàn)一般要求而且所選擇的防護(hù)等級適用于該設(shè)備型式，則本標(biāo)準(zhǔn)也適用于該型式設(shè)備的空外殼。有關(guān)機(jī)械損壞、銹蝕、腐蝕性溶劑(如切削液)、霉菌、蟲害、太陽輻射、結(jié)冰、潮濕(如凝露引起的)、爆炸性氣體等外部影響或環(huán)境條件對外殼和殼內(nèi)設(shè)備破壞的防護(hù)措施以及防止與外殼外部危險(xiǎn)運(yùn)動部件(如風(fēng)扇)的接觸由有關(guān)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。不與外殼連接的隔板以及專門為人身安全設(shè)置的阻擋物，不看作外殼的一部分，本標(biāo)準(zhǔn)不予研究。

GB/T 4797.6-2013環(huán)境條件分類 自然環(huán)境條件 塵、沙、鹽霧

GB/T 4797的本部分闡明了自然界中出現(xiàn)的塵、沙、鹽霧的特性,以及這些環(huán)境因素對在貯存、運(yùn)輸和使用期間暴露其中的產(chǎn)品的影響。雖然這些環(huán)境因素的影響經(jīng)常和風(fēng)有密切的聯(lián)系,但本部分不涉及風(fēng)的環(huán)境因素,相關(guān)內(nèi)容參見GB/T 4797.5。

GB/T 9536-2012電氣和電子設(shè)備用機(jī)電開關(guān).第1部分：總規(guī)范

本部分規(guī)定了電氣和電子設(shè)備用的機(jī)電開關(guān)。 本部分適用的開關(guān): a)借助導(dǎo)電部件（觸頭）的機(jī)械運(yùn)動來斷開、接通或轉(zhuǎn)換電路連接的裝置；b)大額定電壓為480V；c)大額定電流為63A。本部分不適用于供信息處理系統(tǒng)使用的鍵盤和輔助鍵盤。本部分也可適用于機(jī)電琴鍵（按鍵）開關(guān)。開關(guān)系列將在對應(yīng)本總規(guī)范的詳細(xì)規(guī)范中描述。

GB/T 10263-2006核輻射探測器環(huán)境條件與試驗(yàn)方法

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了核輻射探測器的應(yīng)用環(huán)境條件及其嚴(yán)酷等級和環(huán)境參數(shù)，并給出了相應(yīng)的試驗(yàn)方法。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于核輻射探測器和探測器部件(以下統(tǒng)稱探測器)。 本標(biāo)準(zhǔn)不適用于探測器外部火災(zāi)、爆炸和其他意外事故所造成的環(huán)境條件。