紅外焦平面陣列是一種用于紅外輻射檢測(cè)和成像的關(guān)鍵技術(shù)。它是由許多微小的紅外探測(cè)器組成的二維陣列,每個(gè)探測(cè)器可以測(cè)量特定波長(zhǎng)范圍內(nèi)的紅外輻射。與傳統(tǒng)" />
歡迎訪問中科光析科學(xué)技術(shù)研究所官網(wǎng)!
免費(fèi)咨詢熱線
400-635-0567
紅外焦平面陣列檢測(cè)項(xiàng)目報(bào)價(jià)???解決方案???檢測(cè)周期???樣品要求? |
點(diǎn) 擊 解 答??![]() |
紅外焦平面陣列是一種用于紅外輻射檢測(cè)和成像的關(guān)鍵技術(shù)。它是由許多微小的紅外探測(cè)器組成的二維陣列,每個(gè)探測(cè)器可以測(cè)量特定波長(zhǎng)范圍內(nèi)的紅外輻射。與傳統(tǒng)的紅外探測(cè)器相比,紅外焦平面陣列具有更高的空間分辨率和靈敏度,能夠?qū)崟r(shí)獲取紅外輻射圖像。
紅外焦平面陣列可以用于多種領(lǐng)域的紅外輻射檢測(cè)和成像應(yīng)用。其中包括:
紅外焦平面陣列通常需要與一些專用的檢測(cè)儀器配合使用才能發(fā)揮其佳性能。這些檢測(cè)儀器包括:
總之,紅外焦平面陣列是一種關(guān)鍵的紅外輻射檢測(cè)技術(shù),廣泛應(yīng)用于熱成像、醫(yī)學(xué)診斷和軍事領(lǐng)域等。它可以通過與光電傳感器、數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)和光學(xué)組件等檢測(cè)儀器配合使用,實(shí)現(xiàn)高分辨率、高靈敏度的紅外成像。