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400-635-0567標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 38447-2020
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱:微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)技術(shù) MEMS結(jié)構(gòu)共振疲勞試驗(yàn)方法
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱:Micro-electromechanical system technology—Fatigue testing method of MEMS structure using resonant vibration
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)
(CCS)L55
標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)
(ICS)31.200
發(fā)布日期
2020-03-06
實(shí)施日期
2020-07-01
主管部門(mén)
標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
歸口單位
微機(jī)電技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
主要起草單位
北京大學(xué) 、中機(jī)生產(chǎn)力促進(jìn)中心 、北京智芯傳感科技有限公司 、沈陽(yáng)國(guó)儀檢測(cè)技術(shù)有限公司 、浙江博亞精密機(jī)械有限公司 、中北大學(xué) 、北京必創(chuàng)科技股份有限公司 。
主要起草人
張威 、張亞婷 、于振毅 、陸學(xué)貴 、朱悅 、石云波 、李海斌 、程逸軒 、周浩楠 、陳得民 。
相近標(biāo)準(zhǔn)(計(jì)劃)
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